![電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/parts_a/02_T.gif) | ![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/pixel.gif) |
![電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/parts_a/02_photo.jpg) |
試料表面に電子線を照射し、試料から発生してくる2次電子を捕捉しディスプレイを介して観察する装置です。走査電子顕微鏡では、焦点深度が深いので試料表面を立体的に観察できます。
生体材料からポリマーまで様々な試料表面の微細領域の凹凸観察や、元素の分析が可能です。
バイオナノテクノロジー,半導体,化学など様々な分野で最先端の研究開発に活用できます。 | |
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![電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)の特長](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/Label_tokutyou.gif) |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 収差補正器の組み込み、耐震性に優れたステージの採用により、低加速電圧でサブナノメートルが観察できる超高分解能を実現 |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | エネルギー分散形X線分析装置を装着しているため、微小領域の元素分析を非破壊で可能 |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 冷陰極電界放出形電子銃を搭載 |
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![電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)の主な仕様](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/Label_siyou.gif) |
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二次電子像分解能 | 0.6nm(5kV)、1.0nm(1kV) | 倍率 | ×25〜×2
000 000 | 加速電圧 | 0.5kV〜30kV |
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設置場所: バイオナノテクセンター(片柳研究所棟 地下1階分室1) |
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